Đang tải... (xem toàn văn)
Ngân hàng câu hỏi kiểm tra không phá hủy vật liệu
Viện khoa học và kỹ thuật hạt nhân - trung tâm kỹ thuật hạt nhân Ngân hàng câu hỏi về phương pháp kiểm tra siêu âm - bậc II 1 Ngân hàng câu hỏi về phương pháp kiểm tra siêu âm bậc II 1. Điều nào sau đây được xem như các ứng dụng của kỹ thuật siêu âm? a. Xác định modul đàn hồi của một vật liệu. b. Nghiên cứu cấu trúc kim loại của vật liệu. c. Đo bề dày vật liệu. d. --Tất cả các điều trên. 2. Chỉ có một dạng sóng âm truyền qua được chất lỏng là: a. Sóng trượt. b. --Sóng dọc. c. Sóng mặt. d. Sóng Rayleigh. 3. Âm trở của một vật liệu được dùng để xác định: a. Góc khúc xạ tại mặt phân cách. b. Sự suy giảm sóng âm bên trong vật liệu. c. --Những độ lớn tương đối của năng lượng sóng âm được truyền qua hoặc phản xạ tại mặt phân cách. d. Độ rộng của chùm tia bên trong vật liệu. 4. Khi kiểm tra một vật thể bằng đầu dò góc (chùm tia góc) dạng tiếp xúc, góc tới tăng lên cho tới góc tới hạn thứ hai sẽ gây ra: a. Sự phản xạ toàn phần của sóng mặt. b. Sóng mặt bị phản xạ 45 o . c. --Sự hình thành sóng mặt. d. Không phải các điều trên. 5. Năng lượng âm truyền theo nhiều dạng khác nhau. Đó là dạng nào? a. Sóng dọc. b. Sóng trượt. c. Sóng mặt. d. --Tất cả các sóng trên. 6. Một thí nghiệm đơn giản là đặt một que trong một ly nước sẽ xuất hiện sự gấp khúc tại bề mặt của nước, hiện tượng này là sự minh hoạ của a. Sự phản xạ. b. Sự phóng đại. c. --Sự khúc xạ. Viện khoa học và kỹ thuật hạt nhân - trung tâm kỹ thuật hạt nhân Ngân hàng câu hỏi về phương pháp kiểm tra siêu âm - bậc II 2 d. Sự nhiễu xạ. 7. Bề dày tinh thể liên quan đến tần số của đầu dò. Tinh thể mỏng hơn sẽ cho: a. Tần số thấp hơn. b. --Tần số cao hơn. c. Không có ảnh hưởng đáng kể. d. Không phải các điều trên. 8. Sự phân bố ngẫu nhiên hướng của tinh thể trong hợp kim có cấu trúc tinh thể lớn sẽ ảnh hưởng đến. a. Các mức nhiễu của sóng âm. b. Quá trình lựa chọn tần số kiểm tra. c. Sự tán xạ của sóng âm. d. --Tất cả các điều trên. 9. Chiều dài của vùng âm sát với đầu dò trong đó xảy ra sự biến đổi bất thường của âm áp chủ yếu bị tác động bởi: a. Tần số của đầu dò. b. Đường kính của đầu dò. c. Chiều dài của cáp đầu dò. d. --Cả a và b. 10. Sự khác nhau của các tín hiệu được ghi nhận từ các mặt phản xạ giống nhau ở các khoảng cách khác nhau trong vật liệu tính từ đầu dò có thể là do: a. --Sự suy giảm sóng âm trong vật liệu. b. Sự mở rộng của chùm tia. c. Các ảnh hưởng của trường gần. d. Tất cả các điều trên. 11. Một bất liên tục nhỏ hơn đầu dò có thể tạo ra các chỉ thị có biên độ thay đổi bất thường giống như ta dịch chuyển đầu dò tới lui nếu việc kiểm tra được thực hiện trong: a. Trường Fraunhofer. b. --Trường gần. c. Trường Snell. d. Trường cận. 12. Trong kỹ thuật kiểm tra nhúng, các ảnh hưởng trường gần của một đầu dò có thể được loại bỏ bằng cách: a. Tăng tần số đầu dò. b. Sử dụng đầu dò có đường kính lớn hơn. Viện khoa học và kỹ thuật hạt nhân - trung tâm kỹ thuật hạt nhân Ngân hàng câu hỏi về phương pháp kiểm tra siêu âm - bậc II 3 c. --Sử dụng quãng đường truyền trong nước. d. Sử dụng đầu dò hội tụ. 13. Trong hình 1, mô tả một chùm tia có các đặc điểm giống nhau, Biên độ tín hiệu tại điểm A và B so với nhau sẽ như thế nào? a. Chênh nhau -12dB. b. Các biên độ bằng nhau. c. --Có tỉ số bằng 2:1. d. Có tỉ số bằng 3:1. 14. Điều nào sau đây sẽ xảy ra trong một thanh dài nhỏ trước khi sóng âm đi đến mt đáy nếu có chùm tia phân kỳ được phát ra từ mặt trước của vật thể kiểm tra ? a. Một chuỗi các chỉ thị nằm trước chỉ thị của mặt phản xạ đáy đầu tiên. b. Các chỉ thị của nhiều mặt phản xạ. c. --Chuyển đổi từ dạng sóng dọc sang dạng sóng trượt. d. Sự mất mát các chỉ thị từ bề mặt đằng trước. 15. Sự phân kỳ ổn định của chùm tia siêu âm xuất hiện ở đâu? a. Trường gần. b. --Trường xa. c. Ngay tại tinh thể. d. Không phải các điều trên. 16. Việc tăng tần số trong quá trình kiểm tra siêu âm, góc mở rộng chùm tia của một tinh thể có đường kính cho trước: a. --Giảm xuống. b. Không thay đổi. c. Tăng lên. d. Có nhiều dạng khác nhau qua mỗi bước sóng. A B hình 1 Viện khoa học và kỹ thuật hạt nhân - trung tâm kỹ thuật hạt nhân Ngân hàng câu hỏi về phương pháp kiểm tra siêu âm - bậc II 4 17. Tăng bán kính cong của một thấu kính mặt cong thì chiều dài hội tụ của thấu kính sẽ: a. --Tăng lên. b. Giảm xuống. c. Vẫn giống nhau. d. Không xác định được, ngoại trừ khi tần số được biết trước. 18. Khi kiểm tra vật liệu có các khuyết tật dạng phẳng có hướng song song với bề mặt của vật liệu được kiểm tra, phương pháp kiểm tra nào thường được sử dụng nhất: a. Chùm tia góc. b. Truyền qua. c. --Chùm tia thẳng. d. Sử dụng đầu dò tinh thể kép. 19. Nếu một đầu dò chùm tia góc dạng tiếp xúc trực tiếp phát ra chùm sóng trượt tại một góc 45 o trong thép, góc được tạo ra cũng của đầu dò đó trong một mẫu nhôm sẽ là: (Vt thép = 0,323cm/s; Vt Al = 0.310 cm/s ) a. --Nhỏ hơn 45 o . b. Lớn hơn 45 o . c. 45 o . d. Không tính được, yêu cầu phải có nhiều thông tin hơn nữa. 20. Sóng Reyleigh bị ảnh hưởng chủ yếu bởi các khuyết tật có vị trí: a. ở gần hoặc nằm trên bề mặt. b. --ở khoảng cách một bước sóng nằm ở bên dưới bề mặt. c. ở khoảng cách ba bước sóng nằm ở bên dưới bề mặt. d. ở khoảng cách sáu bước sóng nằm ở bên dưới bề mặt. 21. Phương pháp kiểm tra siêu âm trong đó có thể căn cứ vào sự suy giảm bằng cách dùng ngón tay để xác định vị trí của một bất liên tục là: a. Sóng trượt. b. Sóng dọc. c. --Sóng mặt. d. Sóng nén. 22. Sóng Lamb có thể được dùng để phát hiện a. --Các khuyết tật dạng phân lớp gần bề mặt trong một vật liệu mỏng. b. Sự không ngấu và không thấu tại trung tâm bề dày của mối hàn. c. Các khuyết tật bên trong các mối nối không nóng chảy. d. Sự thay đổi bề dày trong một vật liệu tấm đặc. Viện khoa học và kỹ thuật hạt nhân - trung tâm kỹ thuật hạt nhân Ngân hàng câu hỏi về phương pháp kiểm tra siêu âm - bậc II 5 23. Tỷ số của vân tốc âm trong nước so với trong nhôm hoặc thép gần bằng: a. 1:8. b. 1:4. c. 1:3. d. --1:2 24. Phương pháp dò quét nào sau đây có thể được phân loại giống như là dạng kỹ thuật kiểm tra nhúng? a. Đầu dò và vật kiểm tra được nhúng trong một cái bồn. b. Phương pháp phun bong bóng mà trong đó sóng âm được truyền qua một cột nước. c. --Dò quét với đầu dò dạng bánh xe mà đầu dò được đặt bên trong một bánh xe chứa đầy chất lỏng. d. Tất cả các phương pháp trên. 25. Trong quá trình kiểm tra nhúng một mẫu thép hoặc mẫu nhôm, khoảng cách đúng của nước được thể hiện qua sự tách biệt rõ ràng giữa xung phản xạ đáy và xung phản xạ lần hai từ mạt trước. Có được điều này là do: a. --Thời gian sóng siêu âm truyền trong nước lớn hơn truyền trong vật kiểm. b. Thời gian sóng siêu âm truyền trong nước nhỏ hơn truyền trong vật kiểm. c. Nhiệt độ của nước. d. Tất cả các điều trên. 26. *Bằng cách sử dụng phương pháp nhúng, một đường cong biên độ khoảng cách (DAC) đối với một đầu dò có đường kính 19 mm (0,75 inch), tần số 5 MHz chỉ ra điểm trên cao của đường cong DAC tại khối chuẩn B/51 mm(2 inch) . Một ngày sau đó điểm cao của đường cong DAC cũng đầu dò đó li thu được tại khối chuẩn J/102 mm (4 inch). Giả thiết quá trình định chuẩn không thay đổi, điều này chỉ ra rằng đầu dò: a. Có độ phân giải đã được cải thiện. b. Có sự sai hỏng. c. Có chùm tia nh của một đầu dò nhỏ hơn. d. Cả b và c. 27. Định luật nào có thể được dùng để tính toán góc khúc xạ trong kim loại đối với cả dạng sóng dọc và sóng trượt? a. Định luật tỷ số Poisson. b. --Định luật Snell. c. Định luật trường Fresnel. d. Định luật Charles. Viện khoa học và kỹ thuật hạt nhân - trung tâm kỹ thuật hạt nhân Ngân hàng câu hỏi về phương pháp kiểm tra siêu âm - bậc II 6 28. Tại mặt phân cách giữa hai vật liệu khác nhau, âm trở khác nhau sẽ gây ra: a. Sự phản xạ toàn bộ năng lượng sóng tới tại mặt phân cách. b. Hấp thụ sóng âm. c. --Phân chia năng lượng sóng âm thành hai dạng truyền qua và phản xạ. d. Không phải các điều trên 29. Khi dùng đầu dò hội tụ, sóng âm được truyền không đối xứng là do: a. Sự xê dịch của vật liệu bao bọc. b. Thấu kính đặt ở trung tâm hoặc đặt lệch hàng. c. Thấu kính có những lỗ rỗng. d. --Tất cả các điều trên. 30. Các đầu dò siêu âm hình bánh xe có thể được dùng trong dạng kiểm tra nào dưới đây: a. Quá trình kiểm tra bằng sóng dọc hoặc chùm tia thẳng. b. Quá trình kiểm tra bằng sóng trượt hoặc chùm tia góc. c. Quá trình kiểm tra bằng sóng mặt hoặc sóng Rayleigh. d. --Tất cả các điều trên. 31. Trong quá trình kiểm tra bằng chùm tia thẳng, vật thể kiểm tra có mặt trước và mặt sau không song song với nhau có thể gây ra: a. --Mất mát một phần hoặc mất mát hoàn toàn mặt phản xạ đáy. b. Không làm suy giảm mặt phản xạ đáy. c. Chỉ thị của mặt phản xạ đáy được mở rộng. d. Chỉ thị của mặt phản xạ đáy thu hẹp lại. 32. Trong kỹ thuật kiểm tra nhúng, khoảng cách giữa bề mặt đầu dò và bề mặt vật thể được kiểm tra (khoảng truyền trong nước) thường được điều chỉnh sao cho thời gian cần thiết để truyền chùm sóng âm qua nước là: a. Bằng với thời gian cần thiết để truyền chùm sóng âm qua vật thể kiểm tra. b. Lớn hơn thời gian cần thiết để truyền chùm sóng âm qua vật thể kiểm tra. c. Nhỏ hơn thời gian cần thiết để truyền chùm sóng âm qua vật thể kiểm tra. d. Không phải các điều trên. 33. Trong biểu diễn dạng B scan, chiều dài của một chỉ thị trên màn hình từ một bất liên tục được liên hệ với: a. Bề dày của bất liên tục được đo song song với chùm tia siêu âm. b. --Chiều dài của khuyết tật theo phương dịch chuyển của đầu dò. c. Cả a và b. d. Không phải các điều trên. Viện khoa học và kỹ thuật hạt nhân - trung tâm kỹ thuật hạt nhân Ngân hàng câu hỏi về phương pháp kiểm tra siêu âm - bậc II 7 34. Mạch điện nào kích phát xung và kích phát mạch quét thời gian trong quá trình biểu diễn dạng quét A (A scan)? a. Mạch ghi nhận Khuyếch đại. b. Mạch cấp điện. c. Mạch đồng hồ. d. Mạch tạo sự suy giảm 35. Trong quá trình biểu diễn A scan, vùng chết được nói đến như là: a. Khoảng cách nằm bên trong trường gần. b. Vùng nằm ngoài độ rộng chùm tia. c. Khoảng cách được bao phủ vởi bề rộng xung của bề mặt trước và thời gian phục hồi. d. Vùng nằm giữa trường gần và trường xa. 36. Trong quá trình biểu diễn A scan, cường độ chùm tia phản xạ được biểu diễn qua: a. Độ rộng xung phản hồi. b. Vị trí thời gian quét cơ bản trên màn hình. c. Độ sáng của tín hiệu. d. Biên độ của tín hiệu 37. Trong số các kiểu quét sau đây, kiểu nào có thể được sử dụng để tạo ra việc ghi nhận các vùng khuyết tật trên biểu đồ phác hoạ vật thể kiểm tra: a. Quét A (A scan) b. Quét B (B scan) c. --Quét C (C scan) d. Quét D (D scan) 38. Thực hiện việc kiểm tra nhúng trong một bồn nhúng nhỏ, thước căn chỉnh được thực hiện bằng tay được dùng để: a. Đặt khoảng truyền trong nước sao cho phù hợp. b. Đặt góc của đầu dò sao cho phù hợp. c. Đặt chức năng chỉ thị sao cho phù hợp. d. Cả a và b. 39. Đầu dò chùm tia góc phát dạng sóng trượt 45 o vào trong kim loại sẽ bị phân cực: a. Vuông góc với phương truyền sóng và song song với bề mặt áp đầu dò. b. Theo phương truyền sóng và 45 o đối với góc vuông với bề mặt áp đầu dò. c. Vuông góc với bề mặt áp đầu dò. d. Vuông góc với phương truyền sóng và tại 45 o so với bề mặt áp đầu dò. 40. Trong quá trình kiểm tra băng chùm tia thẳng dạng tiếp xúc, sự suy giảm biên độ của mặt phản xạ đáy có thể chỉ cho ta biết: Viện khoa học và kỹ thuật hạt nhân - trung tâm kỹ thuật hạt nhân Ngân hàng câu hỏi về phương pháp kiểm tra siêu âm - bậc II 8 a. Thiếu sự tiếp xúc. b. Khuyết tật không vuông góc với chùm tia. c. Khuyết tật nằm gần bề mặt không thể phân giải được từ xung phát. d. ---Tất cả các điều trên 41. Một thanh có đường kính 15cm (6 icnh) được kiểm tra nhằm phát hiện các vết nứt đường trung tâm. Quá trình biểu diễn dạng A scan đối với vết nứt có đường xuyên qua thanh như mô tả trong hình 2, ở đâu nên đặt một cổng báo. a. Cổng báo nên đặt giữa hai điểm A và E. b. Cổng báo nên đặt chỉ tại điểm D c. Cổng báo nên đặt giữa hai điểm B và D. d. Cổng báo không thể được dùng trong ứng dụng này. 42. Trong một thiết bị dò quét dạng tự động, cầu hay thanh trượt dùng để: a. Nâng đỡ thước căn chỉnh và ống quét để dịch chuyển chúng theo chiều ngang và chiều dọc. b. Điều khiển góc và đặt vị trí cho ống thép nằm ngang c. Điều khiển vị trí nằm dọc và góc cho ống quét. d. Nâng đầu dò lên và hạ đầu dò xuống. 43. Khi điều chỉnh thước toạ độ khuyết tật cho quá trình kiểm tra mối hàn bằng sóng trượt, điểm zero của thước phải trùng với: a. Điểm ra của chùm sóng âm . b. Điểm trực tiếp trên khuyết tật. c. Đầu dò hình bánh xe. d. Máy quét vòng. 44. Một thiết bị quét đặc biệt với đầu dò được đặt trong một khung giống như buồng chứa được đổ đầy chất tiếp âm thường được gọi là: hình 2 Viện khoa học và kỹ thuật hạt nhân - trung tâm kỹ thuật hạt nhân Ngân hàng câu hỏi về phương pháp kiểm tra siêu âm - bậc II 9 a. Máy quét xoay. b. Máy quét trục quay. c. Đầu dò hình bánh xe. d. Máy quét vòng 45. Chỉ thị nào mô tả tốt nhất một vết nứt điển hình có bề mặt chính vuông góc với chùm tia siêu âm? a. Chỉ thị rộng. b. --Chỉ thị sắc nét. c. Chỉ thị sẽ không hiển thị do sự định hướng không phù hợp. d. Chỉ thị rộng cùng với biên độ cao. 46. Mục đích chủ yếu của mẫu chuẩn so sánh là: a. --Cung cấp sự hướng dẫn để hiệu chỉnh thiết bị nhằm phát hiện các bất liên tục được xem như có nguy hại đến quá trình sử dụng một sản phẩm. b. Cung cấp cho nhà kỹ thuật một công cụ nhằm xác định chính xác kích thước bất liên tục. c. Cung cấp sự đảm bảo rằng tất cả các bất liên tục nhỏ hơn mặt phản xạ so sánh cụ thể có khả năng được phát hiện bởi quá trình kiểm tra. d. Cung cấp mặt phản xạ chuẩn mô phỏng một cách chính xác các bất liên tục tự nhiên có một kích thước nhất định. 47. Sự bổ sung đối với quá trình biến đổi xung phản hồi liên quan đến sự biến đổi chiều sâu của bất liên tục trong vật liệu kiểm tra được biết như là: a. Sự lan truyền. b. Sự suy giảm. c. --Sự hiệu chỉnh biên độ - khoảng cách. d. Sự giải đoán. 48. Mặt phản xạ đối chứng nào sau đây không phụ thuộc vào góc của chùm tia? a. Lỗ đáy bằng. b. Vết khía hình chữ V. c. Lỗ khoan nằm ở mặt bên song song với bề mặt và vuông góc với đường truyền chùm tia siêu âm. d. Mặt phản xạ của khuyết tật phân lớp dạng đĩa tròn. 49. Trong quá trình thực hiện kiểm tra siêu âm dùng chùm tia thẳng, chỉ thị của một bất liên tục được phát hiện có biên độ nhỏ, không tương xứng với sự suy giảm biên độ của mặt phản xạ đáy. Hướng của bất liên tục này có thể: Viện khoa học và kỹ thuật hạt nhân - trung tâm kỹ thuật hạt nhân Ngân hàng câu hỏi về phương pháp kiểm tra siêu âm - bậc II 10 a. Song song với bề mặt kiểm tra. b. Vuông góc với chùm tia siêu âm. c. Song song với chùm tia siêu âm. d. --Tạo thành một góc nào đó so với bề mặt kiểm tra. 50. Một bất liên tục có trục được định hướng song song với hướng của chùm tia siêu âm thì chỉ thị của một bất liên tục sẽ: a. Lớn và tỷ lệ với chiều dài của bất liên tục. b. --Nhỏ và tỷ lệ với chiều dài của bất liên tục. c. Cho biết chiều dài của bất liên tục. d. Tạo ra sự suy giảm hoàn toàn quá trình phản xạ đáy. 51. Các bất liên tục dạng khí có được dạng phẳng hình đĩa tròn hoặc dạng khác song song với bề mặt được sinh ra bởi: a. Quá trình cán. b. Quá trình gia công cơ khí. c. Quá trình đúc. d. Quá trình hàn. 52. Trong vùng nào biên độ của chỉ thị từ một bất liên tục cho trước giảm theo hàm số mũ khi gia tăng khoảng cách. a. Vùng trường xa. b. Vùng trường gần. c. Vùng chết. d. Vùng Fresnel. 53. Một bất liên tục có mặt phẳng nhẵn có mặt phẳng chính không vuông góc với phương truyền sóng có thể được chỉ thị bởi: a. Độ lớn xung phản hồi có thể tương đương với xung phản hồi đáy. b. --Sự suy giảm hoàn toàn xung phản hồi đáy. c. Độ lớn biên độ xung phản hồi lớn hơn so với xung phản hồi đáy. d. Tất cả các điều trên. 54. Sử dụng kỹ thuật xung phản hồi, nếu mặt phẳng chính của một bất liên tục dạng mặt phẳng được định hướng theo một số góc nào đó không vuông góc với phương truyền sóng thì kết quả có thể là: a. Làm mất sự tuyến tính của tín hiệu. b. --Làm mất hoặc thiếu xung phản hồi khuyết tật được ghi nhận. c. Làm hội tụ chùm tia siêu âm. d. Làm mất hiện tượng giao thoa.
