BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC SƯ PHẠM KỸ THUẬT THÀNH PHỐ HỒ CHÍ MINH LUẬN VĂN THẠC SĨ DƯƠNG MINH HÙNG NGHIÊN CỨU XÁC ĐỊNH ĐỘ CỨNG CỦA THÉP C45 ĐƯỢC TÔI CAO TẦN SỬ DỤNG PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ X-QUANG NGÀNH: KỸ THUẬT CƠ KHÍ - 60520103 S K C0 Tp Hồ Chí Minh, tháng 04/2015 BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC SƯ PHẠM KỸ THUẬT THÀNH PHỐ HỒ CHÍ MINH LUẬN VĂN THẠC SĨ DƯƠNG MINH HÙNG NGHIÊN CỨU XÁC ĐỊNH ĐỘ CỨNG CỦA THÉP C45 ĐƯỢC TÔI CAO TẦN SỬ DỤNG PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ X-QUANG NGÀNH: KỸ THUẬT CƠ KHÍ - 60520103 TP Hồ Chí Minh, tháng 04 năm 2015 BỘ GIÁO DỤC VÀ ĐÀO TẠO TRƯỜNG ĐẠI HỌC SƯ PHẠM KỸ THUẬT THÀNH PHỐ HỒ CHÍ MINH LUẬN VĂN THẠC SĨ DƯƠNG MINH HÙNG NGHIÊN CỨU XÁC ĐỊNH ĐỘ CỨNG CỦA THÉP C45 ĐƯỢC TÔI CAO TẦN SỬ DỤNG PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ X-QUANG NGÀNH: KỸ THUẬT CƠ KHÍ- 60520103 Hướng dẫn khoa học: PGS.TS LÊ CHÍ CƯƠNG TP Hồ Chí Minh, tháng 04 năm 2015 LÝ LỊCH KHOA HỌC I LÝ LỊCH SƠ LƢỢC: Họ & tên: Dương Minh Hùng Giới tính: Nam Ngày, tháng, năm sinh: 18 - 06 - 1985 Nơi sinh: Trà Vinh Quê quán: Ấp 10 – Long Hữu - Duyên Hải - TràVinh Dân tộc: Kinh Chỗ riêng địa liên lạc: Trường Đại học Trà Vinh – 126, Quốc lộ 53, K4, P5, Tp.Trà Vinh, Tỉnh Trà Vinh Điện thoại: 0985.95.91.90 E-mail: duongminhhung180685@gmail.com II QUÁ TRÌNH ĐÀO TẠO: Đại học: Hệ đào tạo: Chính quy Thời gian đào tạo từ 2003 đến 2008 Nơi học (trường, thành phố): Trường Đại Học Cần Thơ Ngành học: Cơ khí III QUÁ TRÌNH CÔNG TÁC CHUYÊN MÔN KỂ TỪ KHI TỐT NGHIỆP ĐẠI HỌC: Thời gian 2010 đến Nơi công tác Trường Đại học Trà Vinh i Công việc đảm nhiệm Giáo viên LỜI CAM ĐOAN  Tôi cam đoan công trình nghiên cứu  Các số liệu, kết nêu luận văn trung thực chưa công bố công trình khác Tp Hồ Chí Minh, ngày… tháng năm 2015 (Ký tên ghi rõ họ tên) Dƣơng Minh Hùng ii LỜI CẢM ƠN Trong thời gian học tập nghiên cứu chương trình đào tạo sau đại học trường Đại học sư phạm kỹ thuật TP.HCM, em tiếp thu đúc kết nhiều kiến thức bổ ích cho chuyên môn Với đề tài nghiên cứu hình thức luận văn thạc sỹ, em vận dụng kiến thức học để giải vấn đề thực tế Đề tài em nghiên cứu giải vấn đề lĩnh vực đo độ cứng kiểm tra không phá hủy, nghiên cứu lý thuyết làm thực nghiệm, lần tiếp xúc nên em gặp nhiều khó khăn Với hướng dẫn tận tình thầy hướng dẫn PGS.TS Lê Chí Cương với hỗ trợ gia đình, bạn bè, trung tâm Hạt Nhân TP.HCM Cho đến thời điểm luận văn em đạt kết mong muốn Đến đây, cho phép em gửi lời cảm ơn chân thành đến: - Ban Giám Hiệu trường Đại học sư phạm kỹ thuật TP.HCM - Thầy PGS.TS Lê Chí Cương – Khoa Cơ Khí Chế tạo Máy - trường Đại học sư phạm kỹ thuật TP.HCM - Quý thầy cô khoa Cơ Khí Chế Tạo Máy - Trường Đại học sư phạm kỹ thuật TP.HCM - Trung tâm Hạt Nhân TP HCM - Gia đình, bạn bè đồng nghiệp Một lần nữa, em xin chân thành cảm ơn giúp đỡ, hỗ trợ động viên quý báu tất người Xin trân trọng cảm ơn Tp Hồ Chí Minh, tháng năm 2015 Học viên thực luận văn Dƣơng Minh Hùng iii TÓM TẮT Độ cứng tiêu tính quan trọng vật liệu khí thường xác định phương pháp phá hủy truyền thống (Rockwell,Vickers, Brinell) Với nhược điểm trên,trong viết tác giả nghiên cứu phương pháp kiểm tra độ cứng vật liệu mà không làm phá hủy bề mặt việc sử dụng máy đo nhiễu xạ X quang Bài báo nghiên cứu độ cứng thép C45 cao tần với thời gian mẫu thử khác (10 giây, 15 giây, 20 giây, 25 giây, 30 giây, 40 giây 50 giây) Sau mẫu thử kiểm tra phương pháp nhiễu xạ x-quang (thể qua bề rộng trung bình đường nhiễu xạ) Kết thực nghiệm cho thấy độ cứng mẫu thử (HRC) tăng dần bề rộng trung bình (B) tăng dần mối quan hệ chúng thể qua công thức: Từ khóa: Vật liệu, Nhiễu xạ X quang, Độ cứng, Thép C45, Bề rộng trung bình ABSTRACT The hardness is a significant issue of mechanical and determined by conventional destructive methods (Rockwell,Vickers, Brinell) With this disadvantage, this paper the authors have studied a new nondestructive testing the surface by the use of X-ray diffraction measurements This paper studies the hardness of steel C45 with time of high frequency of different samples (10 seconds, 15 seconds, 20 seconds, 25 seconds, 30 seconds, 40 seconds and 50 seconds) Then the sample was iv checked by x-ray diffraction (shown by the Full Width at Half Maximum of the diffraction lines) The experimental results show that the hardness of the samples (HRC) increases, the Full Width at Half Maximum of the diffraction lines (B) also increases and their relationship are shown in equation: Keywords: Material, X-ray diffraction, Hardness, steel C45, Full Width at Half Maximum v MỤC LỤC Trang tựa TRANG Quyết định giao đề tài Lý lịch khoa học i Lời cam đoan ii Lời cảm ơn iii Tóm tắt iv Mục lục vi Danh sách ký hiệu ix Danh sách hình xii Danh sách bảng xv Chƣơng TỔNG QUAN 1.1 Tổng quan chung lĩnh vực nghiên cứu, kết nghiên cứu nước công bố 1.1.1 Tầm quan trọng công nghệ nhiệt luyện 1.1.2 Các kết nghiên cứu nước 1.2 Mục đích đề tài 10 1.3 Nhiệm vụ đề tài giới hạn đề tài 10 1.3.1 Nhiệm vụ 10 1.3.2 Giới hạn đề tài 10 1.4 Phương pháp nghiên cứu 10 Chƣơng CƠ SỞ LÝ THUYẾT 11 2.1 Các phương pháp đo độ cứng 11 2.1.1 Độ cứng Brinell 11 2.1.2.Độ cứng Vickers 14 2.1.3 Độ cứng Rockwell 16 2.2 Lý thuyết nhiễu xạ tia X 18 vi 2.2.1 Định luật Bragg điều kiện nhiễu xạ 18 2.2.2 Các yếu tố ảnh hưởng đến cường độ nhiễu xạ LPA (Lorenz, hệ 19 số phân cực, hàm hấp thu) 2.2.3 Sự mở rộng đường nhiễu xạ 23 2.3 Lý thuyết nhiệt luyện cao tần 33 2.3.1 Tôi cao tần (tôi cảm ứng điện từ) 33 2.3.2 Những đặc điểm chủ yếu austenit tạo thành nung nóng 35 dòng điện tần số cao 2.3.3 Chọn chế độ tần số 35 Chƣơng TRÌNH TỰ THÍ NGHIỆM 37 3.1 Mẫu thực nghiệm 37 1.1 Kích thước mẫu 37 3.1.2 Vật liệu 37 3.1.3 Mạng tinh thể 37 3.1.4 Nhiệt luyện mẫu đo 38 3.1.5 Số mẫu chế tạo 38 3.2 Làm bề mặt 38 Chƣơng PHƢƠNG PHÁP ĐO, SỐ LIỆU ĐO VÀ XỬ LÝ SỐ LIỆU THỰC NGHIỆM 4.1 Phương pháp đo số liệu đo 39 39 4.1.1 Đo mẫu phương pháp nhiễu xạ tia X 39 4.1.2 Đo độ cứng mẫu phương pháp đo Rockwell (HRC) 41 4.2 Xử lý số liệu thí nghiệm 43 4.2.1 Ứng dụng phần mềm Origin Pro 8.0 vào xử lý số liệu 43 4.2.2 Xử lý số liệu 44 Chƣơng KẾT QUẢ THỰC NGHIỆM 5.1 Biểu đồ mối quan hệ đo độ cứng phương pháp Rocwell 53 53 thời gian cao tần 5.2 Biểu đồ mối quan hệ Bề rộng trung bình B thời gian vii 54 38 39 40 41 42 43 44 82,675 82,705 82,735 82,765 82,795 82,825 82,855 76 72 67 63 50 49 42 4 4 4 1,166219 1,165872 1,165526 1,165179 1,164833 1,164488 1,164142 (Nguồn: Dữ liệu Trung tâm hạt nhân Tp.HCM cung cấp) 76 Phụ lục 12 ( Mẫu cao tần với thời gian nung 20 giây ) Stt 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 Góc 2theta (độ) 81,565 81,595 81,625 81,655 81,685 81,715 81,745 81,775 81,805 81,835 81,865 81,895 81,925 81,955 81,985 82,015 82,045 82,075 82,105 82,135 82,165 82,195 82,225 82,255 82,285 82,315 82,345 82,375 82,405 82,435 82,465 82,495 82,525 82,555 82,585 82,615 82,645 Cƣờng độ (photon) 60 67 61 65 103 82 95 100 99 125 160 178 180 225 225 285 274 324 365 419 420 413 427 362 340 338 316 322 287 300 240 218 199 140 134 115 102 Thời gian (s) 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 77 Khoảng cách mặt phẳng nhiễu xạ (A0) 1,17926 1,178902 1,178545 1,178188 1,177831 1,177474 1,177118 1,176762 1,176406 1,176051 1,175696 1,175341 1,174987 1,174632 1,174279 1,173925 1,173572 1,173219 1,172866 1,172513 1,172161 1,171809 1,171458 1,171107 1,170756 1,170405 1,170055 1,169705 1,169355 1,169005 1,168656 1,168307 1,167958 1,16761 1,167262 1,166914 1,166567 38 39 40 41 42 43 44 45 82,675 82,705 82,735 82,765 82,795 82,825 82,855 82,885 98 76 69 56 57 57 43 51 4 4 4 1,166219 1,165872 1,165526 1,165179 1,164833 1,164488 1,164142 1,163797 (Nguồn: Dữ liệu Trung tâm hạt nhân Tp.HCM cung cấp) 78 Phụ lục 13 ( Mẫu cao tần với thời gian nung 25 giây ) Stt 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 30 31 32 33 34 35 36 37 38 Góc 2theta (độ) 81,385 81,415 81,445 81,475 81,505 81,535 81,565 81,595 81,625 81,655 81,685 81,715 81,745 81,775 81,805 81,835 81,865 81,895 81,925 81,955 81,985 82,015 82,045 82,075 82,105 82,135 82,165 82,195 82,255 82,285 82,315 82,345 82,375 82,405 82,435 82,465 82,495 Cƣờng độ (photon) 21 25 22 23 39 35 44 48 58 61 62 92 82 99 107 120 138 192 217 245 284 330 371 410 440 514 540 523 435 440 408 366 395 340 330 300 235 Thời gian (s) 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 79 Khoảng cách mặt phẳng nhiễu xạ (A0) 1,181413 1,181053 1,180694 1,180335 1,179976 1,179618 1,17926 1,178902 1,178545 1,178188 1,177831 1,177474 1,177118 1,176762 1,176406 1,176051 1,175696 1,175341 1,174987 1,174632 1,174279 1,173925 1,173572 1,173219 1,172866 1,172513 1,172161 1,171809 1,171107 1,170756 1,170405 1,170055 1,169705 1,169355 1,169005 1,168656 1,168307 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 82,525 82,555 82,585 82,615 82,645 82,675 82,705 82,735 82,765 82,795 82,825 82,855 82,885 82,915 82,945 172 164 135 126 80 89 68 59 63 52 46 39 40 27 34 4 4 4 4 4 4 4 1,167958 1,16761 1,167262 1,166914 1,166567 1,166219 1,165872 1,165526 1,165179 1,164833 1,164488 1,164142 1,163797 1,163452 1,163107 (Nguồn: Dữ liệu Trung tâm hạt nhân Tp.HCM cung cấp) 80 Phụ lục 14 ( Mẫu cao tần với thời gian nung 30 giây ) Stt 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 Góc 2theta (độ) 81,115 81,145 81,175 81,205 81,235 81,265 81,295 81,325 81,355 81,385 81,415 81,445 81,475 81,505 81,535 81,565 81,595 81,625 81,655 81,685 81,715 81,745 81,775 81,805 81,835 81,865 81,895 81,925 81,955 81,985 82,015 82,045 82,075 82,105 82,135 82,165 82,195 Cƣờng độ (photon) 45 41 46 50 58 50 52 58 68 73 80 88 96 112 106 100 139 132 134 132 161 135 202 196 181 197 207 218 237 255 269 261 264 300 281 283 284 Thời gian (s) 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 81 Khoảng cách mặt phẳng nhiễu xạ (A0) 1,184662 1,1843 1,183938 1,183576 1,183215 1,182854 1,182493 1,182133 1,181772 1,181413 1,181053 1,180694 1,180335 1,179976 1,179618 1,17926 1,178902 1,178545 1,178188 1,177831 1,177474 1,177118 1,176762 1,176406 1,176051 1,175696 1,175341 1,174987 1,174632 1,174279 1,173925 1,173572 1,173219 1,172866 1,172513 1,172161 1,171809 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 82,225 82,255 82,285 82,315 82,345 82,375 82,405 82,435 82,465 82,495 82,525 82,555 82,585 82,615 82,645 82,675 82,705 82,735 82,765 82,795 82,825 82,855 82,885 82,915 82,945 82,975 83,005 83,035 83,065 83,095 83,125 83,155 83,185 287 257 274 223 250 198 202 171 166 165 142 145 157 119 94 119 101 88 70 78 69 58 69 51 54 56 44 37 50 43 30 44 37 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 1,171458 1,171107 1,170756 1,170405 1,170055 1,169705 1,169355 1,169005 1,168656 1,168307 1,167958 1,16761 1,167262 1,166914 1,166567 1,166219 1,165872 1,165526 1,165179 1,164833 1,164488 1,164142 1,163797 1,163452 1,163107 1,162763 1,162419 1,162075 1,161732 1,161388 1,161045 1,160703 1,16036 (Nguồn: Dữ liệu Trung tâm hạt nhân Tp.HCM cung cấp) 82 Phụ lục 15 (Mẫu cao tần với thời gian nung 40 giây) Stt 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 Góc 2theta (độ) 81,025 81,055 81,085 81,115 81,145 81,175 81,205 81,235 81,265 81,295 81,325 81,355 81,385 81,415 81,445 81,475 81,505 81,535 81,565 81,595 81,625 81,655 81,685 81,715 81,745 81,775 81,805 81,835 81,865 81,895 81,925 81,955 81,985 82,015 82,045 82,075 82,105 Cƣờng độ (photon) 51 37 44 55 38 51 55 64 64 60 96 69 71 74 89 83 102 111 124 141 112 155 128 151 160 161 173 178 230 206 251 217 222 242 237 244 251 Thời gian (s) 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 83 Khoảng cách mặt phẳng nhiễu xạ (A0) 1,18575 1,185387 1,185024 1,184662 1,1843 1,183938 1,183576 1,183215 1,182854 1,182493 1,182133 1,181772 1,181413 1,181053 1,180694 1,180335 1,179976 1,179618 1,17926 1,178902 1,178545 1,178188 1,177831 1,177474 1,177118 1,176762 1,176406 1,176051 1,175696 1,175341 1,174987 1,174632 1,174279 1,173925 1,173572 1,173219 1,172866 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 82,135 82,165 82,195 82,225 82,255 82,285 82,315 82,345 82,375 82,405 82,435 82,465 82,495 82,525 82,555 82,585 82,615 82,645 82,675 82,705 82,735 82,765 82,795 82,825 82,855 82,885 82,915 82,945 82,975 83,005 83,035 83,065 83,095 83,125 83,155 83,185 264 289 244 246 253 258 194 205 204 208 195 175 166 137 137 127 121 116 102 99 84 84 78 78 70 64 48 42 42 39 30 43 39 35 52 31 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 1,172513 1,172161 1,171809 1,171458 1,171107 1,170756 1,170405 1,170055 1,169705 1,169355 1,169005 1,168656 1,168307 1,167958 1,16761 1,167262 1,166914 1,166567 1,166219 1,165872 1,165526 1,165179 1,164833 1,164488 1,164142 1,163797 1,163452 1,163107 1,162763 1,162419 1,162075 1,161732 1,161388 1,161045 1,160703 1,16036 (Nguồn: Dữ liệu Trung tâm hạt nhân Tp.HCM cung cấp) 84 Phụ lục 16 ( Mẫu cao tần với thời gian nung 50 giây ) Stt 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 Góc 2theta (độ) 81,025 81,055 81,085 81,115 81,145 81,175 81,205 81,235 81,265 81,295 81,325 81,355 81,385 81,415 81,445 81,475 81,505 81,535 81,565 81,595 81,625 81,655 81,685 81,715 81,745 81,775 81,805 81,835 81,865 81,895 81,925 81,955 81,985 82,015 82,045 82,075 82,105 Cƣờng độ (photon) 35 29 32 42 44 47 36 55 46 54 60 58 72 59 92 82 88 83 98 103 108 140 127 144 163 183 179 161 177 189 206 200 189 252 252 239 252 Thời gian (s) 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 85 Khoảng cách mặt phẳng nhiễu xạ (A0) 1,18575 1,185387 1,185024 1,184662 1,1843 1,183938 1,183576 1,183215 1,182854 1,182493 1,182133 1,181772 1,181413 1,181053 1,180694 1,180335 1,179976 1,179618 1,17926 1,178902 1,178545 1,178188 1,177831 1,177474 1,177118 1,176762 1,176406 1,176051 1,175696 1,175341 1,174987 1,174632 1,174279 1,173925 1,173572 1,173219 1,172866 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 82,135 82,165 82,195 82,225 82,255 82,285 82,315 82,345 82,375 82,405 82,435 82,465 82,495 82,525 82,555 82,585 82,615 82,645 82,675 82,705 82,735 82,765 82,795 82,825 82,855 82,885 82,915 82,945 82,975 83,005 83,035 83,065 83,095 83,125 83,155 83,185 83,215 83,245 83,275 272 289 239 242 296 206 201 210 219 199 192 194 175 175 146 147 124 114 107 115 100 82 87 86 83 85 71 54 50 56 52 43 56 44 39 28 35 36 41 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 1,172513 1,172161 1,171809 1,171458 1,171107 1,170756 1,170405 1,170055 1,169705 1,169355 1,169005 1,168656 1,168307 1,167958 1,16761 1,167262 1,166914 1,166567 1,166219 1,165872 1,165526 1,165179 1,164833 1,164488 1,164142 1,163797 1,163452 1,163107 1,162763 1,162419 1,162075 1,161732 1,161388 1,161045 1,160703 1,16036 1,160018 1,159676 1,159335 (Nguồn: Dữ liệu Trung tâm hạt nhân Tp.HCM cung cấp) 86 Phụ lục 17 Bảng chuyển đổi HB - HRC – HRB – HV HB HRC HRB 800 72 780 71 760 70 752 69 746 68 745 67 735 66 711 65 695 64 681 63 658 62 642 61 627 60 613 59 601 58 746 592 57 727 572 56 694 552 55 649 534 54 120 589 513 53 119 567 504 52 118 549 486 51 118 531 469 50 117 505 468 49 117 497 456 48 116 490 87 HV Ghi 445 47 115 474 430 46 115 458 419 45 114 448 415 44 114 438 402 43 114 424 388 42 113 406 375 41 112 393 373 40 111 388 360 39 111 376 348 38 110 361 341 37 109 351 331 36 109 342 322 35 108 332 314 34 108 320 308 33 107 311 300 32 107 303 290 31 106 292 277 30 105 285 271 29 104 277 264 28 103 271 262 27 103 262 255 26 102 258 250 25 101 255 245 24 100 252 240 23 100 247 233 22 99 241 229 21 98 235 223 20 97 227 88 216 19 96 222 212 18 95 218 208 17 95 210 203 16 94 201 199 15 93 199 191 14 92 197 190 13 92 186 186 12 91 184 183 11 90 183 180 10 89 180 175 88 178 170 87 175 167 86 172 166 86 168 163 85 162 160 84 160 156 83 158 154 82 152 89 S K L 0 [...]... thép C45 được tôi cao tần có ứng dụng nhiều trong lĩnh vực cơ khí (trục, bánh răng, trục khuỷu…) nên việc kiểm tra độ cứng của chi tiết là rất cần thiết Nhưng việc kiểm tra bằng cách truyền thống (Vickers, Brinel, Rocwell) sẽ làm chi tiết bị phá huỷ Việc x c định độ cứng của thép C45 được tôi cao tần bằng phương pháp nhiễu x X- quang thực nghiệm là phương pháp mới để x c định độ cứng của thép C45 được. .. Cường, Nghiên cứu và x c định độ cứng của thép cacbon nhiệt luyện bằng phương pháp nhiễu x tia X, thực hiện năm 2013 tại đại học SPKT Tp.HCM.[10] Độ cứng là một chỉ tiêu cơ tính quan trọng của vật liệu cơ khí, và thường được x c định bằng các phương pháp phá hủy truyền thống dùng mũi đâm Bài báo này nghiên cứu mối liên hệ giữa độ cứng của thép C50 tôi- ram ở nhiều nhiệt độ và bề rộng của đường nhiễu x , ... bởi phương pháp tuyến của mẫu đo với phương pháp tuyến của họ mặt ph ng nguyên tử nhiễu x Ψo : góc tạo bởi phương pháp tuyến của mẫu đo và tia tới X  : là góc phân giác của tia tới và tia nhiễu x X o : là góc tạo bởi phương pháp tuyến của họ mặt ph ng nhiễu x và tia tới X  : góc tạo bởi tia tới X và phương ngang  : góc tạo bởi tia nhiễu x và phương ngang  : góc tạo bởi phương pháp tuyến của. .. Đường nhiễu x chung và các đường nhiễu x thành phần 29 Hình 2.23: Độ rộng scherrer đường nhiễu x 30 Hình 2.24: Độ rộng Laue đường nhiễu x 30 Hình 2.25: Đường nhiễu x X quang được nội suy bằng đường cong 32 Gauss Hình 2.26 Tôi cao tần (tôi cảm ứng điện từ) 33 Hình 3.1: Kích thước mẫu thử 37 Hình 3.2: Kiểu mạng tinh thể thép C45 37 Hình 4.1: Phương pháp đo kiểu  cố định  39 Hình 4.2: Mặt nhiễu x của. .. dài nhiễu x từ phân tố bị nhiễu x đến ra ngoài mẫu đo R : bán kính của mẫu đo hình trụ r : bán kính tại phân tố bị nhiễu x dr : chiều dày phân tố bị nhiễu x  : góc giới hạn vùng nhiễu x d : bề rộng phân tố bị nhiễu x L : chiều dài phân tố bị nhiễu x Lc : chiều dài th m thấu của tia tới và nhiễu x đi ra ngoài mẫu đo dV = Ldrd : thể tích phân tố bị nhiễu x B: bề rộng trung bình đường nhiễu x . .. 48 Hình 4.11: Đường nhiễu x mẫu tôi cao tần với t = 25 giây 49 Hình 4.12: Đường nhiễu x mẫu tôi cao tần với t = 30 giây 50 Hình 4.13: Đường nhiễu x mẫu tôi cao tần với t = 40 giây 51 Hình 4.14: Đường nhiễu x mẫu tôi cao tần với t = 50 giây 52 Hình 5.1: Mối quan hệ độ cứng (HRC) và thời gian tôi cao tần 53 Hình 5.2: Mối quan hệ giữa bề rộng trung bình B và thời gian tôi cao tần 54 Hình 5.3: Đồ thị... thép C45 được tôi cao tần Ngoài ra, việc kiểm tra chi tiết ở các điều kiện tôi cao tần khác nhau cũng cần thiết để x c định độ cứng nhất định của chi tiết khi đó sẽ hiệu quả hơn cho việc sử dụng chi tiết vào các mục đích khác nhau 9 1.2 Mục đích của đề tài Đề tài này nhằm x c định mối quan hệ giữa bề rộng trung bình và độ cứng của thép được tôi cao tần, từ đó đề xuất phương pháp đo độ cứng cho các vật... Trong phương pháp đo ứng suất bằng tia X, đường nhiễu x phải được hiệu chỉnh bằng hệ số LPA (Lorentz – polarization and absorption) để x c định giá trị ứng suất Hệ số hấp thu cho phương pháp điều chỉnh góc ψ và góc ψ0 sử dụng cho độ nghiêng tiêu chuẩn, và phương pháp điều chỉnh η and η0 sử dụng phương pháp ngoài độ nghiêng tiêu chuẩn Thông thường phương pháp đo ứng suất bằng nhiễu x tia X, thì vùng nhiễu. .. x của thép C45 41 Hình 4.3: Phương pháp đo 42 Hình 4.4: Máy đo độ cứng Rockwell model HRC-150 42 Hình 4.5: Biểu tượng của phần mềm Origin pro 8.0 43 Hình 4.6: Hàm nội suy Gauss Amp 44 Hình 4.7: Đường nhiễu x mẫu không nhiệt luyện 45 Hình 4.8: Đường nhiễu x mẫu tôi cao tần với t = 10 giây 46 Hình 4.9: Đường nhiễu x mẫu tôi cao tần với t = 15 giây 47 Hình 4.10: Đường nhiễu x mẫu tôi cao tần với... lý tia X, lý thuyết phân tích cấu trúc tia X, lý thuyết phân tích đường nhiễu x (LPA), đặc biệt là phương pháp phân tích Fourier đường nhiễu x , lý thuyết về lệch mạng kết hợp với x lý, phân tích, lập trình tính toán và vẽ đồ thị các dữ liệu nhiễu x bằng ngôn ngữ Matlab Nghiên cứu tổng hợp mô hình tính toán cho việc tách đường nhiễu x vật lý f (x) từ đường hiễu x đo được (mẫu nghiên cứu) h (x) và