Xây dựng quy trình phân tích hàm lượng phóng xạ U, Th, K trong mẫu địa chất và môi trường

23 561 0
Xây dựng quy trình phân tích hàm lượng phóng xạ U, Th, K trong mẫu địa chất và môi trường

Đang tải... (xem toàn văn)

Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống

Thông tin tài liệu

ĐẠI HỌC QƯÓC GIA HÀ NỘI T R Ư Ờ N G ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỤ N H IÊ N *********************** XÂY DỤ NG QUY TRÌNH PHÂN TÍCH HÀM LƯỢNG PHÓNG XẠ U, TH,K TRONG MẢU ĐỊA CHẤT VÀ MỒI T R Ư Ờ N G * MÃ SÓ QT-04-08 CHỦ TRÌ ĐẺ TÀI: PGS TS N G U Y Ề N TRIỆU TỦ CÁC CÁN B ộ THAM GIA: TS N g u y ễ n T r u n g T í n h C N N g u y ễ n Thị C h a n h KS T r ần T h a n h T â n C N Lê X u â n C h u n g C N N g u y ễ n N g ọ c H u y n h C N N g u y ễ n T iế n P h o n g HÀ NỘI - 2005 Mục Lục M đ ầ u Chuong I: Hệ phổ kế gamma hoạt độ nhỏ 1.1 1.2 1.3 1.4 Detectơ xạ g a m m a .5 Các n guồn tạo p h ô n g Thiết bị G i ả m p h ô n g Hệ phổ kế g a m m a hoat độ n h ỏ Chưoìig II: Xây dựng quy trình phân tích hàm lượng Uran, Thori, Kali : ’ „ 1 II Một số p h n g pháp xác định hàm lượng u 238, T h 232, K 40 m ẫ u 11 11.2 Khảo sát hiệu suất ghi tuyệt đối hệ phổ k ế 13 11.3 Khảo sát tích luỹ R n 222 cháu n ó 17 Kết lu ậ n 23 Tài liệu tham khảo 24 Mở đầu Ur anium , thorium, kalium đồng vị p h ó n g x có thời gian sổng dài; ng có m ặt k h ắ p nơi trái đất Tuỳ vào cấu tạo địa chất, vị trí địa lý, khí h ậ u , nhìn c h u n g h m lư ợ n g đồng vị k h n hỏ, nh ất mẫu môi trường D o việc xác định hàm lượn g c h ú n g tro ng m â u cân nghiên cứu th n g khó khăn k h ô n g phải lúc c ũ n g thực đ ợ c với độ xác m o n g muốn Ngoài ra, đổi với m ẫ u địa chất, m ộ t địi hỏi thực tê kh ơng n h ữ n g cần xác định hàm lượng nguy ên tố m ẫ u cân nghiên cứu với độ xác cần thiết mà phải đ ả m bảo đ ợ c vê m ặt thời gian (cần xác định nhanh) Đe xác định hàm lư ợn g đ n g vị p h ó n g xạ u , Th, K mẫu khảo sát, thực bằn g nhiều p h n g p h p c nhau; ch ăn g hạn n h p h n g pháp khối phổ gia t ố c , - Trong đề tài n ày c h ú n g quan tâm tới việc xác định hàm lượng đồ ng vị trực tiếp t h ô n g q u a việc xác định hoạt độ p h ó n g xạ c h ú n g bằn g p h n g pháp phổ bứ c xạ g a m m a C ó hai loại phổ kế đư ợ c sử dụng: Đó hệ phổ kế g a m m a nhấp nháy hệ p h ổ kế g am m a bán dẫn Hệ phô kê g a m m a nhấp nháy có ưu điểm hiệu suất ghi lớn, k hơng cần có nitơ lỏng kèm, thuận tiện đo đạc, vận chuyể n N h ợ c điểm hệ phô kê độ phân giải xấu p h ô n g cao Do hệ phổ kế g a m m a nhấp nháy th n g đư ợc d ù n g phép đo cần độ xác k hơng cao, th n g chi sử d ụ n g để xác định hoạt độ đ n g vị p h ó n g xạ mẫu địa chất Đẻ xác định hàm lượng m ẫ u môi tr n g với độ xác cao, cân plìải sử d ụ n g hộ phô kế g a m m a bán dẫn (với detector g e m a n iu m siêu tinh khiết (HP Ge) ) T r o n g đô tài này, c h ú n g khảo sát m ột số yếu tổ cần thiết c ủ a m ộ t hệ đo uam m a hoại độ nhỏ phục vụ việc xác định hàm lượn g đ n g vị p h ó n g xạ (U, Th, K) có m ẫu địa chất môi trư ờng đề suất qui trình xác định hàm lượng chủng Chương I Hệ phổ kế gamma hoạt độ nhỏ 1.1 D etectơ xạ gam m a N h trình b ày p hần m đầu, để xác định h m lư ợ n g đ n g vị ph óng xạ u , Th, K có t rong m ẫ u đo; hai hệ phổ kế t h n g đ ợ c sử d ụ n g là: - Hệ phổ kế g a m m a nhấp nháy với detectơ N al( T l) - Hệ phổ kế g a m m a bán dẫn với detec tơ HPGe Hệ phổ kế g a m m a nh ấp nháy (Nal(Tl)), có thành p h ầ n ch ín h nhấp nháy Nal(TI) ố n g nhân q u a n g điện Hệ phổ kể g a m m a bán dẫn, có thành phần lớp bán dẫn p-n Vói detectơ bán dan g e r m a n iu m , n ă n g lư ợ n g đê tạo cặp điện tử- lỗ trống 2,9 eV; đê tạo m ộ t ph otoelectron tinh the Nai cần n ă n g lượn g k h o ả n g lOOOeV Do m ộ t bứ c xạ g a m m a lượng l M e V đ ợ c hấp thụ hoàn toàn tro ng detectơ bá n dẫn tạo 350.000 cặp điện tử- lồ trổng; với nhấp nháy N a i , tạo 4.000 q u a n g điện tử Phô xạ g a m m a cletectơ bán dan đặc tr u n g thành phần sau: - Phân giải n ăn g lư ợ n g cua detectơ - Hiệu suât ghi detecto' - Tỷ sô đỉnh/ C o m p to n Tỷ sỗ đinh/ C o m p t o n (hình l , b ả n g l ) đặc t r n g q u an trọ ng detecto xạ g a m m a ; xác định tỷ sổ g i ữ a độ cao đỉnh hấp thụ toàn phần 1332 keV đ n g vị C o 60 đặt cách detec to c m chia cho độ cao trung bình C o m p to n liên tục k h o ả n g từ 1040 kcV đến !096kc V Tỷ số phụ thuộc vào kích thước bàn chất detccto, có giá trị từ 20- 90 Hình Tỷ số đỉnh C o m p to n det ec to H P G e Bảng Các giá trị tr on g phổ tính tỷ số đỉnh/nền C o m p t o n detecto H P G e A ROI c G 30394 511 87 44482 A- số đếm kênh cao vù ng đỉnh; ROI- sổ đếm kê nh vùng quan tâm; C- số kên h v ù n g quan tâm; G- số đếm tổ ng c ộ n g t rong v ù n g qu an tâm T so liệu b ản g ta tính đư ợ c tỷ số đỉnh C o m p t o n : Tỷ số đỉnh / C o m p t o n - A / R O I = : 1.2 Các nguồn tạo phông Các yêu tô tạo nên p h ô n g bao gô m nguyên nhân sau: - Hoạt chât p h ó n g xạ a vật liệu làm detecto - I loạt cliât p h ó n g xạ chử a vật liệu x u n g qua nh detecto - Tia vù trụ Tia vụ trụ độ cao b a n g mặt nước biển chia làm hai th ành phàn: T h n h phần n g (ch iếm % ) thành phần m ề m (chiếm 27 % ) T h n h phần círne, bao gồm hạt m u o n nucleon M u o n có khả n ă n g đâm xu yên lớn; để loại trừ thành phần cần có hệ trùng phùng T hà nh p h ầ n m ề m tia vũ trụ gồm có hạt electron, pos ition, g am m a T h n h phần loại bỏ bừi chì d y c ỡ lOcm C n g độ tia vũ trụ thay đổi theo thởi gian p h ụ thuộ c v rât nhiêu yêu tô; tr n g hợp đo hoạt độ nhỏ (thời gian đo lâu) cần ý tới thành phẩn Các chất p h ó n g xạ có tr on g vật liệu làm detecto c ũ n g tham gia tạo nên p h n g phóng xạ Với tinh thổ Nal(TI), p hơ ng p hóng xạ tạo s ự p h ó n g xạ Th, Ư đặc biệt K 4I) Do chế tạo vật liệu có độ tinh khiết cao, dctccto I IPGe có p h n g p hóng xạ gây vật liệu làm de tecto thấp B ản g cho biết hoạt độ p h ó n g xạ có m ột sổ vật liệu Báng 'l o t độ p hóng xạ có số loại vật liệu ( m B q / g ) loại vật liệu T h 2J2 Ư2J8 K AI 0,7 0,07 0,9 Ti 0,004 0,06 0,02 Cu 0,04 0,06 0,2 Ge 0,02 0,02 0,2 Fe 0,01 0,01 0,1 M gO 0,2 0,3 0,4 Bức xạ từ vật liệu x u n g quanh hệ phổ kế vậ t liệu chử a chất p h óng xạ thuộc dãy lirợng u 238, T h 232, Ư 235 tồn u 2-'8 đất đá cỡ 1ppm; Báng du a hoạt độ p h ó n g từ hình th n h trái đất H m T h 232 cỡ 10 ppm củ a K 40 cỡ 0,1 - % xạ trung bình số vật liệu xây d ự n g Bản g Hoạt đ ộ trung bình m ộ t số vật liệu xây d ự n g (Bq/kg) R a 226 Loại vật liệu " T h z-'2 G ran it 700 60 60 Cát 200 10 10 Ceramic 500 30 40 Clanhke 600 60 70 60 10 Đá 1.3 Thiết bị giảm phông Phơng p h ó n g xạ thành phần bên ngồi g ây nên giảm đư ợ c che chan; có hai loại che chăn: che chắn thụ độ ng che c h ắ n tích cực - Che chăn thụ động: Dùng vật liệu có khả ngăn cản p h ó n g xạ tốt (các vật liệu có số khối lỏn) Pb, w , Mo, Cu, Fe C ác vật liệu cần phải vật liệu Hệ che chắn thụ đ ộ n g t h n g có cấu tạo n h sau: Ngồi c ù n g lóp Pb, sau đến lớp Cd (để hấp thụ bứ c x 72 k e V Pb), lớp Cu (hấp thụ tia X Cd), cuối cù n g lớp che c h ắ n bới vật liệu có so z nhỏ hon Cu (dổ hấp thụ tia X đặc tn rn g Cu) - Che chắn tích cực: C he chăn tích cụ c t h n g hệ trùn g p h ù n g h o ặc đối trùng, hệ có hiệu việc loại bỏ tia vũ trụ 1.4 Hệ phổ kế gam m a hoat độ nhỏ Phô kế g a m m a d ù n g để xác định n ă n g ỉirợng h o t độ xạ gam m a có mầu đo N ă n g lượn g xạ g a m m a đ ợ c xác định bời vị trí dinh hâp thụ tồn phân cua xạ tới detecto C n g độ củ a xạ đ ợ c xác đinh qua diện tích cùa đỉnh hâp thụ tồn ph ân Phơ xạ g a m m a ghi nhận hệ phân tích biên độ nhiều kênh th n g đ ợc x lý b ằ n g m y tính Tuy nhiên, n h ữ n g đ n h giá ban đầu hữu ích việc lựa ch ọn p h n g pháp tổi ưu xử lý phổ P h ổ xạ g a m m a g m đỉnh n ă n g lư ợ n g n ă m C o m p to n liên tục phơng Diện tích đỉnh phổ- s , p h n g C o m p to n B miền đỉnh phổ (hình 2.) xác định n h sau: Hình P h n g pháp xác định diện tích đỉnh phổ Gọi k sổ kênh d ù n g tính diện tích đỉnh phổ, I- số kê nh d ù n g tính phơng; s„ - sơ đèm kê nh thứ n vùng tính diện tích đỉnh phổ; Bj, Bj - số đếm cùa p hông k ên h bên trái phải đỉnh phổ Khi diện tích đỉnh phổ có thê tính theo c ô n g thức sau: Và p h n g sai nó: Với p h ép đo hoạt độ nhỏ, thời gian đo m ẫ u t h n g k h lớn, cần phải tính tốn thời gian đo tối ưu cho đo m ẫu đo ph ông T cự c tiểu độ lệch chuẩn: cr = Ậ S + B ) / t + B / í tìm tỷ số thời gian tối ưu cho đo m ẫu - Ts v đo p h ô n g - T[ị : Ts Ỉ T ữ = J ( S + B ) / B Dặt T= T s+ T[Ị K = *J(S + B ) ! D , c h ú n g ta có: Ts= TK/( 1+ K) T b= T/( 1+ K ) Moạt độ p h ó n g xạ nhỏ đo L ọ đ ợ c xác định biểu thức sau: L ọ = ( / / + n ( B ) ! { t e I ỵơ 2) với: Iy- suất lư ợng ph át xạ g a m m a - hiệu suất ghi xạ g a m m a (có hệ số phát ỉy) hệ p h ổ kế Chương II Xây dựng quy trình phân tích hàm lượng Uran, Thori, Kali H àm lư ợng đ n g vị p h ó n g xạ Ư 238, T h 232, K 40 tro ng m ẫ u địa chất, đặc biệt m ẫ u môi trư ờng th n g nhỏ Do để có thê xác định chúng với độ ch ính xác cao cần phải có hệ đo với độ n h y cao p h ô n g thấp t 11.1 Một số phư ơng pháp xác định hàm lượng u 238, Th232, K40 mẫu Hàm lư ơng K 4t) tro ng m ẫu nghiên cứu đ ợ c xác định q u a đỉnh n ă n g lượn g đặc tn rn g 1460,8 k e V Với u 238, T h 232, hai đ n g vị bắt đầu hai họ phóng xạ (hình 3) T h o r i u m th n g x ác định q u a đỉnh nă ng lượng 238,6 k e V đ ược phát P b 212 đỉnh n ă n g lư ợ n g 261 ,6 k e V phát TI208, U r a n iu m thư ờng xác định qua đỉnh 609,3 keV đỉnh năn g lư ợ n g 1764,6 keV phát B i 214 Do B i214 sản ph ẩm cháu R n 222 có chu kỳ bán huỷ 3,82 ngày R n 22 chất khí, nên phải giữ lại m ẫ u b ằ n g cách nhốt hộp m ẫu kín để đảm bả o cân phóng xạ C hu kỳ bán huỷ củ a R n 222 3,82 ngày; nên để sai sổ phép đo ảnh hưởng cùa chư a cân b ằ n g p h ó n g xạ hoàn toàn nhỏ hơ n 1%, cần phải nhốt mẫu nhât 27 ng ày (> chu kỳ bán huỷ) Hai p h n g p h p sau đư ợ c sử dựng để xác định hàm lư ợ n g uran ium , thorium, kal ium mẫu: - P h n g ph áp t n g đối: Với p h n g p h áp này, phô xạ g a m m a m ẫ u c h u ẩ n m ẫ u cần nghiên cứu ghi nhộn Hệ phổ kế xác định diện tích đỉnh p h ổ đặc trư ng cho đồng vị T ỷ số diện tích tính tốn T r ê n c sở tỷ sổ n h th ô n g sô cùa hệ phô kế hàm lư ợng đ n g vị cần quan tâm biết m ẫ u chu ẩn , ta xác định hàm lư ợng đ n g vị mầu cần nghiên cứu - P h n g pháp tu yệt đối Phư ơng pháp nà y k h ô n g cần m ẫu chuẩn hàm: H m lư ợ n g đ n g vị cần quan tâm đư ợ c xác định trực tiếp qua số liệu ghi đ ợ c p h ổ (nh diện tích đỉnh phố, ) thông số hệ phổ kế ( n h hiệu suất ghi, )Tron g đê tài này, c h ú n g quan tâm tới p h n g pháp th ứ 2; xác định hàm lượng ura nium, tho riu m , kalium b ằn g p h n g phcỉp tuyệt đối T rong p h n g p h p tuyệt đối, phổ xạ g a m m a củ a m ẫ u nghiên cứu kháo sát; dính phổ n ăn g lượn g đặc trung: đỉnh 609 k e V cho u 238, đỉnh 238 keV cho T h 232; đỉnh 1460 cho K 40 xác định xác vị trí diện tích T h ô n g q u a t h ô n g tin có đỉnh phô đặc trưng, người ta xác định hoạt độ đ n g vị phát xạ: H- hoạt độ đ n g vị ph át xạ đặc trung I- suất lượng vạch n ă n g lượng đặc trưng 8- hiệu suất ghi xạ đặc trưng cùa hệ phô kế m- khối lượng m ẫ u đo t- thời gian đo S- diện tích din h phô C h ú n g ta nhận thấy, diện tích đỉnh phổ s đ ọ c xác định p h ổ xạ ghi nhận được; suất lư ợ n g xạ I tìm thấy b ả n g tra cứu; khối lượng mẫu đo m xác định trước đo; thời gian đo t xác định đo Còn m ột đại lư ợn g cần xác định hiệu suất ghi tu yệt đối hệ phổ kế 12 11.2 Khảo sát hiệu su ất g h i tuyệt đối hệ phổ kế N h tro ng c h n g I trình bày, hiệu suất ghi cùa hệ ph ổ kế g a m m a bán dẫn phụ thuộc vào n ă n g lư ợng có d ạn g phức tạp T r o n g “ S u r v e y in g the HPGe detector ab solu te ef fi ciency ” ch ú n g khảo sát phụ thuộc hiệu suât ghi tuyệt đối detec to H P G e v năn g lượn g xạ tới với n g u n có d ạn g đĩa, đư n g kính 1cm đặt cách detecto cm Ket n h sau: Bảng Sổ liệu thực n ghiệ m hiệu suất ghi tuyệt dổi cùa hệ phổ kế Gieni 2000 Order Number Energy (KeV) ly (%) Count Count per sccond Detecti on efficiency Ac ti vi ty o f source 10 3889 1057.0718 0.0098±1.72% 5740 1.5944 265.9770 0.0060±2.71% 26 0.0747 14 8988 0.0050±1,16% 15 500 4.3056 937.2059 0.0046±2.01% 2.8832 1320 0.3667 99.3438 0.0037±4.82% 688.62 0.8514 220 0.0611 29.3359 0.0021±13.6% 778.91 12 87 3 10 0.9194 438.2368 0.0021 ± % 867.39 4.0963 852 0.2367 14 1 25 00 7±6.36% 964.05 14.3344 2990 0.8306 493.9075 0 ± 17% 10 05 0.6364 134 03 72 21.9306 1960 0.5444 347.8895 56 0.0989 62.4172 0 ± 16% 2560 0.0711 461.8565 00 5±3.02% 12 77 93 30.6788 244.6927 7.7193 295.96 0.4324 344.32 27 444.03 10 37400 0 17± 16.81% ]] 1085.81 96 12 1089 73 1.8115 13 11 12 42 14 121 94 496 30 0.0639 51.5463 0 2± l 1.24% 15 1299 1.74624 24 68 60.1686 0011 ± 1.16% 16 408 08 20.7264 3140 0.8722 714.1509 0012±2.81% 0 ± 6% C hú ng k hớ p đ n g c o n g hiệu suất ghi theo hai biểu thức sau: e = ỵ p ,E -' £= (2.2) |n(£ )" Kct kh p n h sau: £ | ( E ) = 1.65095 E ' 1- 30.281 E'2 - 3103.08 E' (2.3) 82(E) = ( l n E ) ' ' -7 620 22 (InE)'2 + 9 ( ln E ) ° - 1(1nE)- 13 Hiệu suất ghi tuyệt đổi 0.012 0.01 0.008 0.006 0.001 0.00? • • ?no 80D 400 ìnno Ì^inn 1200 krV , Hình Hiệu suất ghi tuyệt đối detecto H P G e nguồn đĩa đ n g kính l c m 0.04!: * 035 - 3& ? « 0.04 - Thí222) * KKO) 0.03 025 - 02 - 015 0.01 - 0.005 0 00 000 500 2000 2500 E, keV Hình n i ệ u suât ghi tuyệt đôi de tecto H P G e n g u n m ầu c h u â n u, Th, K ch ứ a tr on g h ộ p n h ự a hình trụ 14 Mình C ác đỉnh có mẫu ch uẩn để ch uẩn hiệu suất ghi 15 Bảng Các đỉnh n ă n g lư ợ n g dùng xác định hiệu suất ghi củ a hệ phổ kế I IPGe Đ ô n g vị N ă n g lượng Suât lượng R r 2ì ( 186,1 0,05 789 Pb"4 295,1 0,185 Pb214 352,0 0,358 B\m 768,4 0,05 Bi214 934,0 0,032 Bi^1 ỉ 120,3 0,15 Bi214 1238,1 0,059 Bi214 1377,7 0,04 B izl4 1764,5 0,159 Bi214 2204,1 0,05 A c in 338,4 0,124 Bi212 727,3 0,067 * 21H Ac 794,8 0,046 860,3 0,043 911,2 0,29 966,8 0,232 1460,8 0,1066 Y|2()8 A c 22ii K4" Đe xác định hiệu suất ghi hệ phổ kế phụ thuộc vào n ăn g lượn g xạ g a m m a ghi n h ận trư n g hợp mẫu đo k h ô n g có d n g hình đĩa, m có dạn g hình trụ, c h ú n g tơi sử d ụ n g mẫu chuân u, Th, K đ ự n g t rong hộp hình trụ (hộp sứ d ụ n g đo m ầu cần nghiên cứu) Các sô liệu cho bảníi hỉnh 4, hỉnh 16 11.3 Khảo sát tích luỹ Rn222 cháu N h trình b ày phần II khó khăn việc xác định hàm lượn g u 21s m ẫu nghiên cứu m ẫu cần phải đư ợ c nhốt kín nliât 27 ngày trước đo m u ố n sai số điều gây k h ô n g vư ợ t 1% Liệu có giải pháp tránh đ ược việc phải c h tới th n g sau ch u ân bị mâu tiến hà nh đo kh ông C c tác giả M au ziori et al k h ảo sát trình Sau m ẫ u đ ợ c x lý nhốt kín c h ú n g ta có hệ thức sau: dN, P - W , dí (IN ~dt (IN( = ẲliN l ỉ - Ẳ c N c (2.4) ~dí (ỈN, = ẢCN c - Ấn N n dt Vói p- h ằn g số tốc dộ san phấm R n 222 A, B c, D- k ý hiệu ch o hạt nhân R n 222, P o 218, P b 214, B i 2l4tư n g ứng C h ú n g ta giả thiết rang phần 4, dó cùa R n 222 tạo li n lục bị phái từ m ẫu n guyên khối, m ộ t phần khác -X khác thoát tro ng qu trình xử lý mẫu (nghiền, x a y , D o ta có < < 1; 0< X

Ngày đăng: 19/03/2015, 10:05

Từ khóa liên quan

Mục lục

  • Mục Lục

  • Mở đầu

  • 1.1. Detectơ bức xạ gamma

  • 1.2. Các nguồn tạo ra phông.

  • 1.3. Thiết bị giảm phông

  • 1.4. Hệ phổ kế gamma hoat độ nhỏ

  • 11.2. Khảo sát hiệu suất ghi tuyệt đối của hệ phổ kế

  • 11.3. Khảo sát sự tích luỹ của Rn222 và con cháu của nó

  • Kết luận

  • Tài liệu tham khảo

Tài liệu cùng người dùng

Tài liệu liên quan