Phổ tán xạ năng lượng tia X potx

24 1.5K 20
Phổ tán xạ năng lượng tia X potx

Đang tải... (xem toàn văn)

Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống

Thông tin tài liệu

Phổ tán sắc năng lượng tia X ( E n e r g y – D i s p e rsi v e X - r ay S p e c t r o s c o p y )  GVHD : PGS.TS Nguyễn NgọcTrung  SVTH : Đỗ Thị Mai Loan  SHSV : 20081570  Lớp : VLKT-K53 Phổ tán sắc năng lượng tia X  Tổng quan về kỹ thuật phân tích phổ  Nguyên lý của phép phân tích phổ  Kỹ thuật ghi nhận và độ chính xác của EDS  Ứng dụng  Kết luận chung Nội dung Tổng quan về kỹ thuật phân tích phổ EDS (EDX)  Phổ tán sắc năng lượng tia X là kỹ thuật phân tích thành phần hóa học của vật rắn dựa vào việc ghi lại phổ tia X phát ra từ vật rắn do tương tác với các bức xạ( chủ yếu là chùm điện tử có năng lượng cao trong các kính hiển vi điện tử).  Viết tắt là EDS hoặc EDX.  Được phát triển từ những năm 60 của thế kỷ 20. Tổng quan về kỹ thuật phân tíc h phổ EDS (EDX) Tổng quan về kỹ thuật phân tíc h phổ EDS (EDX)  Tia X ( hay tia Ronghen) là một dạng của sóng điện từ, có bước sóng trong khoảng 0.01-10nm.Bước sóng của nó ngắn hơn tia tử ngoại nhưng dài hơn tia gamma.  Tia X có khả năng xuyên qua nhiều vật chất nên thường dùng trong chụp ảnh y tế, nghiên cứu tinh thể  Năng lượng tia X rất lớn. Tổng quan về phép phân tích phổ EDS ( EDX) Nguyên lý c a phép phân tích ph EDSủ ổ Các hiệu ứng xáy ra khi chiếu chùm điện tử lên mẫu chất: Nguyên lý của phép phân tíc h phổ EDS Cơ chế : + Điện tử tới ion hóa nguyên tử trong mẫu chất sau khi tán xạ trên lớp K của nguyên tử đó,làm bật ra một điện tử. + Một điện tử lớp ngoài nhảy vào chiếm chỗ đồng thời phát xạ ra photon tia X. + Photon tia X được sinh ra tiếp tục tương tác với các điện tử lớp ngoài làm bật ra điện tử Auger. Như vậy nếu phát xạ tia X nhiều thì phát xạ điện tử sẽ ít đi và ngược lại. Nguyên lý của phép phân tích phổ EDS Nguyên lý c a phép phân tích ủ EDX: Khi chùmđi n t có ệ ử năng l ng cao t ng tác v i ượ ươ ớ các l p v đi n t bên trong ớ ỏ ệ ử c anguyên t v t r n, ph tia ủ ử ậ ắ ổ X đ c tr ng s đ c ghi nh nặ ư ẽ ượ ậ Nguyên lý c a phé p phân tí ch ph EDSủ ổ  K h i c h ù m đ i n t c ó n ă n g l n g l n đ c c h i u và o v t r n , n ó s x u y ê n s â u ệ ử ượ ớ ượ ế ậ ắ ẽ v à o  n g u y ê n t  v t r n v à t n g t á c v i c á c l p đ i n t b ê n t r o n g c a  n g u y ê n ử ậ ắ ươ ớ ớ ệ ử ủ t . ử  T n g t á c n à y d n đ n v i c t o r a c á c  t i a X  c ó  b c s ó n g  đ c t r n g t l ươ ẫ ế ệ ạ ướ ặ ư ỉ ệ v i  n g u y ê n t s ( Z ) c a  n g u y ê n t  t h e o  đ n h l u t M o s l e y :ớ ử ố ủ ử ị ậ  P h o t o n t i a X đ c t r n g c ó n ă n g l n g ( h a y b c s ó n g ) x á c đ n h đ c t r n g c h o ặ ư ượ ướ ị ặ ư n g u y ê n t p h á t r a n ó . D o v y, b c s ó n g t i a X đ c t r n g c h o b i t t h ô n g t i n v ố ậ ướ ặ ư ế ề s c ó m t c a n g u y ê n t p h á t r a t i a X , c ò n c n g đ c h o b i t t h ô n g t i n v n n g ự ặ ủ ố ườ ộ ế ề ồ đ c a n g u y ê n t đ ó . ộ ủ ố [...]... Đòi hỏi cách ly detector rắn bằng cửa sổ Be hấp thụ phát x năng lượng thấp  Tín hiệu tản mạn từ các miền cách xa  Định lượng, độ chính x c kém khi nồng độ rất thấp  E D X t ỏ r a k h ô n g h i ệ u q u ả v ớ i c á c n g u y ê n t ố n h ẹ ( v í d ụ  B ,   C ) v à t h ườ n g x u ấ t h i ệ n h i ệ u ứ n g c h ồ n g c h ậ p c á c đ ỉ n h t i a X c ủ a c á c nguyên tố khác nhau Thank you! ... Ứng dụng X c định sự phân bố các nguyên tố trên bề mặt mẫu Ứng dụng Phân tích định lượng vi cấu trúc của gỉ và ảnh SEM Kết luận chung  Ưu điểm:  Không yêu cầu tiêu tụ tia X  Độ nhạy cao  Không có giao thoa từ các pic bậc cao  Thiết kế cơ khí đơn giản  Khả năng ghi nhận tốc độ đếm cao cho phép kích thước mũi dò nhỏ hơn và mũi ít bị hư hỏng hơn Ứng dụng  Nhược điểm:  Độ phân giải năng lượng kém... g h i n h ận v à đ ộ c h í n h x c c ủa p h ổ E DS -Detecto là điot Si trong đó mi ền p đã đ ược làm m ỏng đ ể tia X có th ể đi t ới mi ền chuy ển ti ếp pn( đã đ ược m ở r ộng nh ờ pha t ạp Li(2-3 cm)) Mi ền n n ối v ới b ộ ti ền khu ếch đ ại - H ệ detecto đ ược đ ặt trong chân không và gi ữ ở nhi ệt đ ộ Nito l ỏng -Photon tia X đi vào chuy ển ti ếp pn, s ẽ cung c ấp năng l ượng cho đi ện t ử quang... nhiễu x điện tử Hiện nay các detector rắn có độ phân giải vào khoảng 140 eV K ỹ th u ậ t g h i n h ận v à đ ộ c h í n h x c c ủa E D S  Đ ộ c h í n h x á c c ủ a E D S : ở c ấ p đ ộ m ộ t v à i % ( t h ô n g t h ườ n g g h i n h ậ n đ ượ c s ự c ó m ặ t c ủ a c á c n g u y ê n t ố c ó t ỉ p h ần c ỡ 3 - 5 % t r ở l ê n )  N h ữn g b i ến t h ể c ủa E D S : + P h ổ đ i ện t ử A u g e r + Phổ huỳnh... huỳnh quang tia X + P h ổ t á n s ắ c b ướ c s ó n g t i a X  : t ươ n g t ự n h ư p h ổ E D X n h ư n g c ó t h ê m t h ô n g t i n v ề c á c n g u y ê n t ố n h ẹ, c ó k h ả n ă n g l o ại n h i ễu t ốt h ơn E D S v à c h ỉ p h â n t í c h đ ượ c m ộ t n g u y ê n t ố c h o m ộ t l ầ n g h i p h ổ Ứng dụng  P h â n t í c h đ ị n h t í n h : T o à n b ộ d ả i n ă n g l ượ n g t i a X đ ặ c t r... và độ chính x c ph ổ EDS  Q u á t r ì n h i o n h o á t r ê n t ạ o r a c á c c ặp đ i ện t ử v à l ỗ t r ố n g G ọi - n l à s ố c ặp Đ T - L T - E x l à n ă n g l ượ n g t i a X n=Ex/En - E n l à n ă n g l ượ n g c ầ n t h i ế t đ ể t ạ o r a 1 c ặ p Đ T - L T E n ( S i ) ~ 3 , 8 e V C á c c ặ p Đ T - L T t ạ o r a t r o n g S i c h ạ y v ề c á c đ i ện c ực v à c h u y ển t h à n h x u n g đ i... p đ ầ u v à o b ộ t i ền K Đ X u n g n à y đ ượ c K Đ v à đ ượ c n ố i v ớ i b ộ K Đ n h i ề u k ê n h Ở đ ó s ố l i ệ u đ ượ c x ử l ý t ạ o t h à n h p h â n b ố b i ê n đ ộ x u n g t ỉ l ệ v ớ i n ă n g l ượ n g t i a X P h â n b ố n à y đ ượ c h i ể n t h ị t r ê n m à n h ì n h d ướ i d ạ n g p h ổ n ă n g l ượ n g K ỹ t h u ậ t g h i n h ậ n v à đ ộ c h í n h x á c c ủa p h ổ E D S K ỹ t h... c ủ a c á c n g u y ê n t ố đ ượ c q u é t đ ể x â y d ự n g đ ồ t h ị t ươ n g ứ n g S a u đ ó s o s á n h v ớ i đ ồ t h ị c h u ẩ n đ ể x á c đ ị n h c á c n g u y ê n t ố c ó t r o n g m ẫu  P h â n t í c h đ ị n h l ượ n g : X á c đ ị n h h à m l ượ n g % c ủ a n g u y ê n t ố c ó t r o n g m ẫu b ằn g c á c h đ ị n h l ượ n g c ườ n g đ ộ t i a X đ o đ ượ c v à c h u y ể n đ ổ i t h à n h %... ắc s ó n g + + M á y đ ếm t ỉ l ệ k h í  P h ổ t i a X p h á t r a s ẽ c ó t ầ n s ố ( n ă n g l ượ n g p h o t o n t i a X ) t r ả i t r o n g m ộ t v ù n g r ộ n g v à đ ượ c p h â n t i c h n h ờ p h ổ k ế t á n s ắ c n ă n g l ượ n g d o đ ó g h i n h ậ n t h ô n g t i n v ề c á c Phg u ế ê n st c năng n g ng h ư t h à n h p h ầ n n ổ k y tán ắ ố c ũ lượ n Nguyên lý của phép phân tích ph ổ EDS... à đ ộ c h í n h x á c c ủa p h ổ E D S K ỹ t h u ậ t g h i n h ậ n v à đ ộ c h í n h x á c c ủa p h ổ E D S  Đ ộ p h â n g i ả i n ă n g l ượ n g : E w + Đ ượ c đ o b ằ n g đ ộ r ộ n g n ă n g l ượ n g t ạ i n ử a c ự c đ ạ i c ủ a c ườ n g đ ộ p i c E w p h ụ t h u ộ c v à o s ố c ặ p Đ T - L T v à n h i ễu đ i ện t ử + Cách tính : Ew=Eб + En T r o n g đ ó E б = 2 , 3 5 б x, б x =(F.n)^(1/2) là . phân tích phổ EDS (EDX)  Phổ tán sắc năng lượng tia X là kỹ thuật phân tích thành phần hóa học của vật rắn dựa vào việc ghi lại phổ tia X phát ra từ vật rắn do tương tác với các bức x ( chủ. đồng thời phát x ra photon tia X. + Photon tia X được sinh ra tiếp tục tương tác với các điện tử lớp ngoài làm bật ra điện tử Auger. Như vậy nếu phát x tia X nhiều thì phát x điện tử sẽ ít. h phổ EDS (EDX)  Tia X ( hay tia Ronghen) là một dạng của sóng điện từ, có bước sóng trong khoảng 0.01-10nm.Bước sóng của nó ngắn hơn tia tử ngoại nhưng dài hơn tia gamma.  Tia X có khả năng

Ngày đăng: 27/06/2014, 04:20

Từ khóa liên quan

Mục lục

  • Slide 1

  • Phổ tán sắc năng lượng tia X

  • Tổng quan về kỹ thuật phân tích phổ EDS (EDX)

  • Tổng quan về kỹ thuật phân tích phổ EDS (EDX)

  • Tổng quan về kỹ thuật phân tích phổ EDS (EDX)

  • Tổng quan về phép phân tích phổ EDS ( EDX)

  • Nguyên lý của phép phân tích phổ EDS

  • Nguyên lý của phép phân tích phổ EDS

  • Nguyên lý của phép phân tích phổ EDS

  • Nguyên lý của phép phân tích phổ EDS

  • Nguyên lý của phép phân tích phổ EDS

  • Nguyên lý của phép phân tích phổ EDS

  • Kỹ thuật ghi nhận và độ chính xác của phổ EDS

  • Kỹ thuật ghi nhận và độ chính xác phổ EDS

  • Kỹ thuật ghi nhận và độ chính xác của phổ EDS

  • Kỹ thuật ghi nhận và độ chính xác của phổ EDS

  • Kỹ thuật ghi nhận và độ chính xác của phổ EDS

  • Kỹ thuật ghi nhận và độ chính xác của EDS

  • Ứng dụng

  • Ứng dụng

Tài liệu cùng người dùng

Tài liệu liên quan